ecginc匝間短路檢測儀的概要
匝間短路檢測儀可以對線圈做到有效的，非破壞性測試。
其原理是將相同的脈沖電流傳遞給標準繞組（主線圈）和被測繞組（采樣線圈），比較瞬態現象波形，并判斷質量。瞬態波形，即在線圈中產生的減衰振動波形表示電感和Q，并且可以同時確定線圈的匝數差，層厚度，或確定材料的差異等等。施加更高的脈沖電壓還可以從電暈放電中檢測出絕緣缺陷。 換句話說，可以在非常短的時間內可以對線圈做各種檢測
在規定的時間間隔內比較主設備區域的大小和樣本的區域大小。 。
例圖1 算出a-b區間的面積，判定它們之間差異大小。判定標準設為%，如果被測的物判定結果在所設范圍內，即是良品。面積大小，大致與線圈中的能量損失成比例，根據損耗大小來判斷。例如當樣品線圈處于短路狀態，損耗部分就會增大并且此結果可以顯示出來。
計算規定間隔內主設備和樣本之間波形的不同部分的面積。
例圖2算出a-b區間的面積，和標準面積（圖1）相比較，根據其大小程度可以做出判定。判定標準設為%，如果被測的物判定結果在所設范圍內，即是良品。波形差面積的大小，通過L值及損失程度大小的總和來顯示。特別是L值變化有問題的時候，這個方法有效。
忽略波形差異，檢測像圖3的電暈放電等周波成分。
通過對任意規定部分的波形應用濾波處理來檢測電暈分量，并且基于其幅度確定電暈分量。判定基準設定為整數值，如果被測的物判定結果在所設范圍內，即是良品。
Laplacian是一種數字濾波方法，用于在圖像處理中檢測物體的邊緣強度，與FLUTTER VALUE方法相比，能夠使波形數據中隱藏的不連續性數值（即噪音）數據化，可以判斷準確且易于理解的放電成份。
對被測試線圈逐漸施加電壓的同時，通過AREA以及Laplacianl進行絕緣破壞判定，臨近破壞前施加的實際測試電壓作為被測線圈的破壞電壓來顯示（図4）
保存的標準波形和樣品波形可以簡單的疊加顯示，從而更能容易區分2個先前的特性差異。
| DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
|---|---|---|---|---|
| 施加電壓?電壓可調檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為１ＫΩ | 50V～1000V （10V檔） 最大5m焦耳 | 500V～5000V （100V檔） 最大0.12焦耳 | 1000V～10000V （100V檔） 最大0.5焦耳 | |
| 測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
| 采樣?速度 / 內存 | 8bit／10nano-sec.（100MHz） / 8192-Byte | |||
| 采樣?范圍 （WIDTH） | -4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5 10個范圍（0 DW系列互換） | |||
| 測試輸入回路 | 電阻分壓（5MΩ） | |||
| 畫面顯示，波形顯示范圍 | 640×480（VGA），8.4寸彩色液晶，4色表示 512×256 | |||
| 判定方法 | 和標準波形比較 根據波形面積，波形差面積，放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
| 標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種（14種／14頁） Compact Flash Memory700中（14種／50頁） | ||
| 外部接口 | 并行口I／O（Start，Reset，OK，NG，Busy，Master等） RS-232C（測試控制 測試數據） 打印機板（畫面硬拷貝等） EtherNet適配器（可選） | |||
| 附件 | 測試電纜線1.5M 1根，電源線1根（付3P轉換頭） Compact Flash Memory 1個，并行口I／O連接器1個 使用說明書?測試成績書 1份 | |||
| 使用條件 | 0℃～40℃ 電源電壓：100V～240V±10％（出廠時工廠設定） | |||
| 外形尺寸 （不含Carry Handle） ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) | ||
