一、核心技術：雙法合一，突破傳統檢測局限

1. 無損渦流探頭（非接觸式）

• 測量原理：電磁渦流感應，零接觸、零損傷

• 測量范圍：0.5–200 Ω/□

• 測量光斑：φ25 mm

• 核心價值：保護脆弱薄膜、透明涂層、精密面板表面無劃痕，適合大批量快速篩檢

2. 四探針接觸探頭（高精度式）

• 測量原理：經典四探針法，數據權1威可溯源

• 測量范圍：0.001–4000 Ω/□

• 針距：3 mm，測量區域 9 mm

• 核心價值：覆蓋超低阻到高阻全量程，滿足研發標定、質量仲裁、精度校準需求

3. 整機硬核性能

• 手持輕量化：主機約 350 g，單手可操作

• 自動測量：探頭輕觸 / 放置樣品即自動啟動

• 超長續航：電池連續工作 24 小時

• 數據管理：存儲 50,000 組數據，支持 USB 導出

• 多單位顯示：Ω/□、S/□、膜厚 nm 一鍵切換

二、全場景落地：從面板到新材料，覆蓋全產業鏈

場景 1：顯示面板行業 —— ITO/TCO 柔性導電膜量產檢測

• 前道卷對卷生產：無損探頭快速篩檢，不劃傷膜面

• 后道成品抽檢：四探針探頭高精度復核

• 實際成效：

• 產品報廢率從 0.8% 降至 0.1%

• 檢測效率提升 3 倍

• 批次一致性達標率達 99.5%

場景 2：建筑節能玻璃 —— LOW?E 鍍膜在線質檢

• 全程使用無損探頭，輕放即測

• 2 秒 / 片，適配高速產線節拍

• 實時判定合格 / 不合格

• 實際成效：良品率達 99.8%，節能指標穩定達標

場景 3：前沿新材料 —— 石墨烯 / 碳納米管 / 納米銀線研發表征

• 無損探頭保護樣品不被破壞

• 四探針提供高精度基準數據

• 直讀膜厚換算值，快速建立工藝曲線

• 實際成效：研發周期縮短 40%，數據可直接用于論文與專1利

場景 4：消費電子 —— 抗靜電涂層來料快檢

• 無損探頭快速初篩

• 四探針對異常品精準復核

• 手持便攜，倉庫 / 產線隨處可測

• 實際成效：檢驗效率提升 5 倍，不合格來料有效攔截

三、方案價值：一臺設備，解決全流程檢測難題

1. 降本增效

   一機替代無損儀 + 四探針儀兩臺設備，采購與維護成本更低。

2. 品質保障

   無損保護高價值產品，接觸測量確保精度，雙重保障質量。

3. 全場景適配

   實驗室研發、產線全檢、來料檢驗、現場抽檢均可勝任。

4. 數據可追溯

   大容量存儲 + USB 導出，滿足 ISO、IATF 等體系審核要求。

5. 易用易普及

   無需專業培訓，工人快速上手，降低人力成本。

四、總結：面向未來的導電材料檢測標準